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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎所發展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀軟件的模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

型號：F10-HC

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便。現在，不論?產線操作?員還是研發技術?員都能在?秒鐘內檢測和記錄涂層厚度情況。

型號：F10-AR

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F3-sX 光學厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達到3毫米的眾多半導體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列膜厚儀配置10微米的測量光斑，從而可以容易地測量其他膜厚測量儀器不能測量的膜層，并且僅在幾分之一秒內完成。F3-sX膜厚儀在Si晶圓厚度測量、護涂層、IC芯片失效分析、厚光刻膠等方面優異表現。

型號：F3-sX

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果

型號：F37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs 光學膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

型號：F3-sX

更新日期：2023-08-25

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