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Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING

簡要描述:Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統,可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。

  • 產品型號:F50
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-06-24
  • 訪  問  量:5425
產品詳情

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀




Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品介紹:

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統,可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品優勢:

  • 自動化薄膜厚度繪圖系統,快速定位、實時獲得結果;

  • 可測樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;

  • 測繪結果可用2D或3D呈現,方便用戶從不同的角度檢視;



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量原理:

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀常見工業應用:

半導體膜層

顯示技術

消費電子

派瑞林

光刻膠

OLED

防水涂層

電子產品/電路板

介電層

ITO和TCOs

射頻識別

磁性材料

砷化鎵

空氣盒厚

太陽能電池

醫學器械

微機電系統

PVD和CVD

鋁制外殼陽極膜

硅橡膠



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品參數:

波長范圍:

190nm-1340nm

光源:

鎢鹵素燈、氘燈

厚度測量范圍:

5nm-2mm

測量精度:

0.02nm

光斑大小:

標準1.5毫米

樣品臺尺寸:

1-300mm

聯系我們獲取更多參數



Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量圖:



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