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Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產環境的功能。這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、預裝軟件的工業計算機，以及可以升級到全自動化晶圓傳輸的機型。

型號：F60-t

更新日期：2025-06-25

￥1

Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數量限制之測量點.只需具備基本電腦技能，就可在數分鐘內自行建立配方。

型號：F54

更新日期：2025-06-24

￥1

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎所發展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀軟件的模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

型號：F10-HC

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便。現在，不論?產線操作?員還是研發技術?員都能在?秒鐘內檢測和記錄涂層厚度情況。

型號：F10-AR

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F3-sX 光學厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達到3毫米的眾多半導體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列膜厚儀配置10微米的測量光斑，從而可以容易地測量其他膜厚測量儀器不能測量的膜層，并且僅在幾分之一秒內完成。F3-sX膜厚儀在Si晶圓厚度測量、護涂層、IC芯片失效分析、厚光刻膠等方面優異表現。

型號：F3-sX

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果

型號：F37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs 光學膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

型號：F3-sX

更新日期：2023-08-25

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