Filmetrics 自動測量光學(xué)膜厚儀
簡要描述：Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，速度達(dá)到每秒兩點。
產(chǎn)品型號：F54-XYT-300- 廠商性質(zhì)：代理商
- 更新時間：2025-06-24
- 訪 問 量：1618
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品介紹：
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，速度達(dá)到每秒兩點。
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實時獲得結(jié)果；
可測樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀測量原理：
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：
顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 | |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學(xué)器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品常見工業(yè)應(yīng)用：
半導(dǎo)體制造 | LCD液晶顯示器 | 光學(xué)鍍層 | MEMS微機電系統(tǒng) |
光刻膠 | 聚酰亞胺 | 硬涂層 | 光刻膠 |
氧化物/氮化物/SOI | ITO透明導(dǎo)電膜 | 抗反射涂層 | 硅系膜層 |
晶圓背面研磨 |
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀產(chǎn)品參數(shù)：
波長范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)簟㈦疅?/span> |
測量nk厚度要求1*： | 50nm | 測量精度2： | 0.02nm |
準(zhǔn)確度*：取較大者 | 1nm或0.2% | 穩(wěn)定性3： | 0.05nm |
樣品大小： | ≤直徑300毫米 | 速度（含有真空平臺）： | 5個點-8秒 25個點-21秒 56個點-43秒 |
光斑大小 | 標(biāo)準(zhǔn)500 微米孔徑 | 選配250 微米孔徑 | 選配100 微米孔徑 |
5X物鏡 | 100μm | 50μm | 20μm |
10X物鏡 | 50μm | 25μm | 10μm |
15X物鏡 | 33μm | 17μm | 7μm |
50X物鏡 | 10μm | 5μm | 2μm |
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀測量圖：
